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李志彬，陈新安
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半导体物理实验
:李志彬，陈新安
作者：
李志彬，陈新安
出版社：
电子科技大学出版社
出版时间：
2015
ISBN：
978-7-5647-2907-3
索书号：
TN303-33
分类号：
TN303-33
页数：
116页
价格：
22.60
复本数：
在馆数：
累借天数：
累借次数：
本书共包括实验项目18个，其中10个为半导体物理实验，8个为半导体器件实验。主要包括：四探针法测量电阻率；P-N导电类型鉴别；椭圆偏振光谱法测量单晶硅的光学常数；激光测定单晶硅的晶向等。
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文献类型
中文图书
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出版社
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作者
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出版年
2015
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