返回检索首页
我的图书馆登录
半导体物理实验
/李志彬,陈新安
作者
李志彬,陈新安
价格
22.60
出版者
电子科技大学出版社
索书号
TN303-33
ISBN
978-7-5647-2907-3
分类号
TN303-33
页数
116页
出版日期
20150001
出版地
成都
附件
:
设置1
:
http://digital.kmlib.yn.cn:5000/Book/Detail?pinst=1edece1b0001730bce&ruid=22fd718a000152XXXX
设置2
:陈新安
设置3
:
设置4
:本书共包括实验项目18个,其中10个为半导体物理实验,8个为半导体器件实验。主要包括:四探针法测量电阻率;P-N导电类型鉴别;椭圆偏振光谱法测量单晶硅的光学常数;激光测定单晶硅的晶向等。
附注提要
本书共包括实验项目18个,其中10个为半导体物理实验,8个为半导体器件实验。主要包括:四探针法测量电阻率;P-N导电类型鉴别;椭圆偏振光谱法测量单晶硅的光学常数;激光测定单晶硅的晶向等。
目录
暂无目录
(0)
||
(0)
手机二维条形码
二维条形码使用说明
馆藏信息
序号
索书号
码号定位
订户
馆藏地点
馆藏状态
借出日期
还回日期
流通类型
卷册说明
登录号
1
TN303-33
CX0000958
KT
电子图书
入藏
保存
0
相关链接: