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作者:<<国产半导体器件性能汇>>辑组
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出版时间:0
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索书号:TN303/6009
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作者:潘天明
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出版时间:0
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索书号:TN303/3216
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价格:2.50
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作者:李志彬,陈新安
出版社:电子科技大学出版社
出版时间:2015
ISBN:978-7-5647-2907-3
索书号:TN303-33
分类号:TN303-33
页数:116页
价格:22.60
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本书共包括实验项目18个,其中10个为半导体物理实验,8个为半导体器件实验。主要包括:四探针法测量电阻率;P-N导电类型鉴别;椭圆偏振光谱法测量单晶硅的光学常数;激光测定单晶硅的晶向等。
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作者:厦门大学物理系半导体物理教研室
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出版时间:0
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索书号:TN305-42/7134
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价格:1.50
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半导体器件:清华大学外语教研组英语读物注释小组
作者:清华大学外语教研组英语读物注释小组
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出版时间:0
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索书号:H319/3524\4
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价格:0.73
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作者:(美)威特森;上海无线电17.26厂
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出版时间:0
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索书号:TN385/2131
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价格:1.50
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作者:上海科学技术情报研究所
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出版时间:0
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索书号:TN305/2132
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价格:0.18
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作者:(美)格罗夫;齐建
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出版时间:0
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索书号:TN3/4765
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价格:0.90
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作者:包宗明,王儒全
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出版时间:0
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索书号:TN301/2736
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价格:2.20
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作者:朱庆学
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索书号:TN3/2509
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价格:5.05
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