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出版社:"机械工业出版社"
出版年:"2004"
软件测试经验与教训
:(美)凯纳(Kaner, C.), (美)James Bach, (美)Bret Pettichord, 韩柯
作者：
(美)凯纳(Kaner, C.), (美)James Bach, (美)Bret Pettichord, 韩柯
出版社：
机械工业出版社
出版时间：
2004
ISBN：
7-111-12975-X
索书号：
TP311.56/2724
分类号：
TP311.56
页数：
19,234页
价格：
35.00
复本数：
在馆数：
累借天数：
累借次数：
本书汇总了293条来自软件测试界顶尖专家的经验和建议，阐述了如何做好测试工作、如何管理测试，以及如何澄清有关软件测试的常见误解。
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索书号
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数据结构与算法分析: C语言描述
:(美)维斯Mark Allen Weiss, 冯舜玺
作者：
(美)维斯Mark Allen Weiss, 冯舜玺
出版社：
机械工业出版社
出版时间：
2004
ISBN：
7-111-12748-X
索书号：
TP311.12/2042
分类号：
TP311.12
页数：
13,391页
价格：
35.00
复本数：
在馆数：
累借天数：
累借次数：
本书介绍了数据结构（大量数据的组织方法）以及算法分析（算法运行时间的估算）。
详细信息
索书号
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品牌资产
:(美)萨姆·希尔(Hill,S.), (美)克里斯·莱德勒(Lederer,C.), 白长虹
作者：
(美)萨姆·希尔(Hill,S.), (美)克里斯·莱德勒(Lederer,C.), 白长虹
出版社：
机械工业出版社
出版时间：
2004
ISBN：
7-111-13706-X
索书号：
F273.2/4027
分类号：
F273.2
页数：
163页
价格：
25.00
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在馆数：
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累借次数：
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中文图书
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出版社
机械工业出版社
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机械工业出版社
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作者
(美)凯纳(Kaner, C.), (美)James Bach, (美)Bret Pettichord, 韩柯
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(美)维斯Mark Allen Weiss, 冯舜玺
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(美)萨姆·希尔(Hill,S.), (美)克里斯·莱德勒(Lederer,C.), 白长虹
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(美)凯纳(Kaner, C.), (美)James Bach, (美)Bret Pettichord, 韩柯
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(美)维斯Mark Allen Weiss, 冯舜玺
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(美)萨姆·希尔(Hill,S.), (美)克里斯·莱德勒(Lederer,C.), 白长虹
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