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    软件子系统测试:(美)马瑞克(Brian Marick), 韩柯

    作者:(美)马瑞克(Brian Marick), 韩柯 出版社:机械工业出版社 出版时间:2003 ISBN:7-111-12794-3
    索书号:TP311.56/7714 分类号:TP311.56 页数:472页 价格:55.00
    丛书:软件工程技术丛书
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    本书内容分:基本手段、实施子系统测试、实践中的子系统测试、举例与扩展、测试需求的乘积和附录六部分,系统地给出了子系统测试目标和分类,有针对性地给出具体的测试方法和思路。
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