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软件子系统测试
:(美)马瑞克(Brian Marick), 韩柯
作者：
(美)马瑞克(Brian Marick), 韩柯
出版社：
机械工业出版社
出版时间：
2003
ISBN：
7-111-12794-3
索书号：
TP311.56/7714
分类号：
TP311.56
页数：
472页
价格：
55.00
丛书：
软件工程技术丛书
复本数：
在馆数：
累借天数：
累借次数：
本书内容分：基本手段、实施子系统测试、实践中的子系统测试、举例与扩展、测试需求的乘积和附录六部分，系统地给出了子系统测试目标和分类，有针对性地给出具体的测试方法和思路。
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文献类型
中文图书
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出版社
机械工业出版社
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作者
(美)马瑞克(Brian Marick), 韩柯
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