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计量与测试专利文摘 上册
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计量与测试专利文摘 上册
:上海科学技术情报研究所
作者：
上海科学技术情报研究所
出版社：
上海科学技术文献出版社
出版时间：
1984
ISBN：
索书号：
TB9-7/2132/1
分类号：
TB9-7
页数：
281页
价格：
2.95
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索书号
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计量与测试专利文摘 (下册)
:上海科学技术情报研究所
作者：
上海科学技术情报研究所
出版社：
上海科学技术文献出版社
出版时间：
1984
ISBN：
索书号：
TB9-7/2132/2
分类号：
TB9-7
页数：
216页
价格：
2.32
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计量与测试专利文摘 下册
:上海科学技术情报研究所
作者：
上海科学技术情报研究所
出版社：
上海科学技术文献出版社
出版时间：
1984
ISBN：
索书号：
TB9-7/2132/2
分类号：
TB9-7
页数：
216页
价格：
2.32
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中文图书
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出版社
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上海科学技术文献出版社
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作者
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出版年
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