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    工程测试技术:孔德仁, 朱蕴璞, 狄长安

    作者:孔德仁, 朱蕴璞, 狄长安 出版社:科学出版社 出版时间:2004 ISBN:7-03-012529-0
    索书号:TB22/1222 分类号:TB22 页数:11,389页 价格:30.00
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    本书介绍了工程测量的基础知识,工程信号常用分析方法及可测性,测试系统的基本特性,计算机测试技术,光电测量技术等。
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    腐蚀试验方法及监测技术:李久青, 杜翠薇

    作者:李久青, 杜翠薇 出版社:中国石化出版社 出版时间:2007 ISBN:978-7-80229-269-7
    索书号:TB304/4025 分类号:TB304 页数:268页 价格:38.00
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    本书共分为三篇。第1篇为腐蚀试验方法,主要介绍腐蚀试验方法的分类、试验设计与试验条件控制、常用的腐蚀评定方法等内容;第2篇为防腐蚀检测技术,介绍防腐蚀工程和产品的检测技术;第3篇为腐蚀监控。
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    工程电磁兼容: 原理、测试、技术工艺及计算机模型:(?)柯达里(Kodali, V.P.), 陈淑凤

    作者:(?)柯达里(Kodali, V.P.), 陈淑凤 出版社:人民邮电出版社 出版时间:2006 ISBN:7-115-15174-1
    索书号:TN03/4136 分类号:TN03 页数:438页 价格:49.00
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    介绍了电磁兼容的基本知识,并提供了电磁干扰源、电磁兼容/电磁干扰测量、控制电磁干扰的技术工艺、计算机仿真与设计以及国际电磁兼容标准的新信息。
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    机械工程测试技术:吴松林,赵冲,王宁

    作者:吴松林,赵冲,王宁 出版社:北京理工大学出版社有限责任公司 出版时间:2019 ISBN:978-7-5682-6580-5
    索书号:TG806/6044 分类号:TG806 页数:192页 价格:51.00
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    本书共8章,主要内容包括:绪论,测试信号分析,测试系统基本特性,能量型传感器,物性型传感器,智能传感器及智能测试系统,工程测试仪器、仪表,测试系统及其设计。
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    软件评估、基准测试与最佳实践:(美)琼斯(Jones, C.), (电信技术)韩柯

    作者:(美)琼斯(Jones, C.), (电信技术)韩柯 出版社:机械工业出版社 出版时间:2003 ISBN:7-111-11805-7
    索书号:TP311.52/1042 分类号:TP311.52 页数:14,403页 价格:49.00
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    本书将定性与定量方法结合起来分析软件开发活动,通过结合分析评估数据和基准测试数据,揭示特定的工具和实践如何影响机构开发工作的效率。
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    软件测试自动化:(美)莫斯里(Mosley, Daniel J.), (美)Posey(Posey, Bruce A.), 邓波, 黄丽娟, 曹青春

    作者:(美)莫斯里(Mosley, Daniel J.), (美)Posey(Posey, Bruce A.), 邓波, 黄丽娟, 曹青春 出版社:机械工业出版社 出版时间:2003 ISBN:7-111-12818-4
    索书号:TP311.56/4446 分类号:TP311.56 页数:10,226页 价格:29.00
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    本书详细分析了从计划、实施到管理软件自动化测试的整个处理过程,包括一个完整的软件自动化测试项目实例, 其中包括完整文档、实现、自动化环境、角色、责任等。
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    软件测试:(美)乔根森(Jorgensen, Paul C.), 韩柯, 杜旭涛

    作者:(美)乔根森(Jorgensen, Paul C.), 韩柯, 杜旭涛 出版社:机械工业出版社 出版时间:2003 ISBN:7-111-12166-X
    索书号:TP311.56/2044.2 分类号:TP311.56 页数:10,318页 价格:35.00
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    本书全面地介绍了软件测试的基础知识和方法、通过问题、图表和案例研究,对软件测试数学问题和技术进行了深入的研究,并在例子中以更加通用的伪代码取代了过时的Pascal代码,从而使内容独立于具体的程序设计语
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    软件测试经验与教训:(美)凯纳(Kaner, C.), (美)James Bach, (美)Bret Pettichord, 韩柯

    作者:(美)凯纳(Kaner, C.), (美)James Bach, (美)Bret Pettichord, 韩柯 出版社:机械工业出版社 出版时间:2004 ISBN:7-111-12975-X
    索书号:TP311.56/2724 分类号:TP311.56 页数:19,234页 价格:35.00
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    本书汇总了293条来自软件测试界顶尖专家的经验和建议,阐述了如何做好测试工作、如何管理测试,以及如何澄清有关软件测试的常见误解。
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    软件子系统测试:(美)马瑞克(Brian Marick), 韩柯

    作者:(美)马瑞克(Brian Marick), 韩柯 出版社:机械工业出版社 出版时间:2003 ISBN:7-111-12794-3
    索书号:TP311.56/7714 分类号:TP311.56 页数:472页 价格:55.00
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    本书内容分:基本手段、实施子系统测试、实践中的子系统测试、举例与扩展、测试需求的乘积和附录六部分,系统地给出了子系统测试目标和分类,有针对性地给出具体的测试方法和思路。
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